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天通公司牵头起草的两项新国际标准提案顺利通过评审

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时间: 2016-09-22

9月22日,由中国电子技术标准化研究院主办的“金属磁粉心标准体系等六项国际标准提案论证评审会”在京召开,来自IEC/TC51(国际电工委员会磁性材料技术委员会)中国专家组的10多家院所和企业的专家、学者参加会议。国家标准化管理委员会工业二部王天质先生、工信部电子信息司余雪松博士应邀出席。天通公司作为标准起草单位之一出席了此次会议。

 

工信部电子信息司余雪松博士介绍了电子信息领域标准化工作进展情况及十三五期间电子信息领域标准化工作重点和思路。国标委王天质先生强调了标准化工作在促进世界互联互通的重要意义,他结合国标委的系列规划和部署,谈到了企业如何深入开展标准化工作,指出企业的标准化战略要融入到产业经营与市场竞争战略中去,要有策略的进行整体布局。

 

会上,天通控股股份有限公司磁性材料研究所所长李小龙汇报了天通牵头起草的两项国际标准草案《铁氧体磁心尺寸与表面缺陷极限导则第X部分:PQ型磁心》和《铁氧体磁心尺寸与表面缺陷极限导则第X部分:EFD型磁心》前期的起草工作。评审专家认为,该提案对该领域制定国际标准、规范发展具有重要指导作用,有利于该领域产品质量、技术及应用水平的提升,对增强我国国际标准的话语权及提升在磁性材料领域的国际影响力具有重要意义。该草案在会上通过了专家组的评审,将按照相关程序上报国标委,由国标委提交IEC/TC51秘书处。

 

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